技術摘要

本發明係提供一種細胞移行能力之檢測晶片，其中，該晶片上係設有至少一平面通道，一預定濃度之細胞外基質或生長因子，係塗布於該通道上以及毫米刻度尺印刷於通道旁。藉由本發明所揭之該晶片，於檢測細胞移行能力時，僅需將細胞置於該通道其中一端，而後進行細胞培養，細胞係會隨著培養時間而往該通道另一端移動。據此，本發明所揭內容係可提供一種迅速、操作簡單、製作成本低之細胞移行能力檢測工具，在癌細胞轉移的機制研究及抗癌藥物篩檢上為重要的功能分析平台。

現有技術描述、問題及其缺陷

過去檢測細胞移行能力之器材不僅昂貴，並且操作需要高度技巧而使得所得結果不穩定。

科學突破

細胞移行能力係為癌症研究中之一重要依據，而在細胞移行之過程中，細胞膜上之接受器係與細胞外基質接觸並且形成密集附著分子作為細胞移行時細胞膜延伸之主要結構，因而細胞外基質對於細胞移行之控制係十分重要。

目前研究中常利用Wound healing, trans-well chamber, random migration等方式檢測細胞移行，其中，Wound healing係為最被普遍使用之方式，其作法係將細胞培養於含有細胞外基質之培養盤中，於細胞將近長滿時，利用微量吸管頭將單層細胞刮出一空間，使該空間兩側之細胞會往該空間自然移動，藉此檢測該空間被佈滿之時間，作為細胞移行能力之重要指標。惟，Wound healing於實際操作之過程中，十分難掌控所刮出之空間每次皆大小一致，故難以作為比較經不同處理之細胞的工具；而倘若同時刮除培養盤上之細胞外基質，則會造成影響到細胞移行之速率。再者，trans-well chamber係藉由一培養置入杯，其底部係為一層薄膜，而具有得使細胞通過之小孔，藉由該置入杯放入24孔培養盤，使之形成上下兩空間，並於下層塗布細胞外基質及致放血清，使培養於上層之細胞往下層移動，而後再刮除膜上方細胞並且將膜下方固定染色觀察之，然，該方法不僅需要操作技術熟練，並且需藉由一定數量照片始能計算細胞移行效率，使得成本花費高昂。而為了簡化培養複雜度，有研發出random migration之方式，然而其係需要將細胞培養於live image顯微鏡系統下作長時間之定時照相，並且尚須透過特殊軟體分析細胞移動軌跡。

因此，本發明之主要目的係在於提供一種細胞移行能力之檢測晶片，其係為一操作簡單、製作成本低之檢測工具。

實例一：製作細胞移行晶片

實例二：單一跑道之細胞移行晶片

實例三：具以不同細胞外基質處理跑道之細胞移行晶片

實例四：具以不同濃度之細胞外基質處理跑道之細胞移行晶片

產業應用性

由於製造方式簡單，可直接透過奈米噴墨印刷術將通道印於如玻片等載體上，因此，得大幅減少產品化之門檻，並且增加與廠商合作開發之機會。

本技術發明之目的及達成功效

1. 步驟簡單快速、容易操作
2. 直接透過簡易倒立式顯微鏡可觀察結果
3. 得附上刻度尺，更方便研究者分析量化結果
4. 製造成本低

相關專利資訊

1. 一種細胞移行能力之檢測晶片，具有一載體，至少一平面跑道，一細胞外基質成份。
2. 依據申請專利範圍第1項所述細胞移行能力之檢測晶片，其中，該細胞外基質濃度係階狀誘引方式設於該跑道。
3. 依據申請專利範圍第1項所述細胞移行能力之檢測晶片，其更包含一毫米(μm)刻度尺，沿設於該跑道旁。
4. 依據申請專利範圍第1項所述細胞移行能力之檢測晶片，其中，各該跑道得分別經由不同處理條件處理之。
5. 依據申請專利範圍第1項所述細胞移行能力之檢測晶片，其係為一開放細胞培養系統。

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